探针台工作原理

探针台工作原理

探针台是一种用于对集成电路（IC）进行电气测试的设备。它使用微小的探针与 IC 上的焊盘连接，以进行测量和测试。

基本原理

探针台的基本工作原理包括以下步骤：

1. 放置器件：将待测 IC 放置在探针台的载台上，该载台通常配备有显微镜和精密定位系统。

2. 对准：使用显微镜和微调旋钮，将 IC 上的焊盘与探针精确对齐。

3. 探测：金属探针从探针台的载头上延伸出来，与 IC 上的焊盘接触，创建电气连接。

4. 测试：使用连接到探针的测试设备，向 IC 应用信号并测量其响应，例如电流、电压或阻抗。

5. 移动：通过使用计算机控制的移动平台，可以在 IC 上移动探针，以测试不同的焊盘和电路路径。

主要组件

探针台的主要组件包括：

• 载台：固定和定位待测器件的平台。
• 探针：用于与器件焊盘连接的微小金属导体。
• 显微镜：用于精确对准探针和焊盘。
• 定位系统：用于移动探针和器件的计算机控制平台。
• 测试设备：连接到探针以进行电气测量和测试。

应用

探针台广泛用于 IC 的以下应用：

• 故障排除：确定 IC 中的缺陷或故障。
• 功能验证：测试 IC 是否按照设计工作。
• 性能表征：测量 IC 的电气特性，例如电流消耗、功耗和时序。
• 晶片探测：直接在晶片上进行测试，无需封装。
• 失效分析：确定导致 IC 故障的根本原因。