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晶圆探针台

TCGK-tcwin 灯珠Q&A 发布时间:2024-09-05 11:55:14 浏览量:699

晶圆探针台

定义

晶圆探针台

晶圆探针台是一种用于测试和表征集成电路 (IC) 的设备。它允许在晶圆级别与裸片进行电气连接。

组件

  • 探针卡:包含多个探针,用于连接到晶圆上的裸片焊盘。
  • 探针台:一个平台,用于固定和对齐探针卡和晶圆。
  • 探针定位器:一种机制,用于精确地将探针与裸片焊盘对齐。
  • 热控系统:用于控制晶圆的温度。
  • 计算机接口:用于控制探针台和执行测试。

工作原理

1. 晶圆准备:去除晶圆的保护层,露出裸片焊盘。

2. 探针卡安装:将探针卡放置在探针台上,并对准探针与焊盘。

3. 探针对齐:使用探针定位器将探针精确地对齐到焊盘。

4. 测试执行:根据所需的测试方案,电信号通过探针发送到裸片。

5. 数据采集:测试结果(例如电流、电压、时序)通过探针收集并发送到计算机。

应用

晶圆探针台用于多种应用中,包括:

  • 晶圆测试:验证裸片的功能性和性能。
  • 故障分析:识别和定位故障原因。
  • 参数提取:测量器件的电气特性,例如电阻、电容和跨导。
  • 工艺开发:优化IC制造工艺。
  • 封装验证:评估封装技术的电气完整性。

优点

  • 高精度:能够进行精确的探针对齐和电连接。
  • 可并行性:允许同时测试多个裸片。
  • 自动化:测试过程可以自动化,以提高效率。
  • 非破坏性:测试不会损坏裸片,允许后续处理或分析。

缺点

  • 昂贵:晶圆探针台是复杂的设备,成本高昂。
  • 测试时间:测试过程可能很耗时,尤其是对于大型晶圆。
  • 操作复杂:操作晶圆探针台需要专门的培训和技能。